Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

Chil Hwan Oh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치
Original languageEnglish
Patent number6771418
Publication statusPublished - 2004 Aug 3

Fingerprint

electron microscopes
methodology

Cite this

Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof. / Oh, Chil Hwan (Inventor).

Patent No.: 6771418.

Research output: Patent

@misc{735157a1f1b14b7da99e81e468042945,
title = "Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof",
abstract = "전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치",
author = "Oh, {Chil Hwan}",
year = "2004",
month = "8",
day = "3",
language = "English",
type = "Patent",
note = "6771418",

}

TY - PAT

T1 - Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

AU - Oh, Chil Hwan

PY - 2004/8/3

Y1 - 2004/8/3

N2 - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

AB - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

M3 - Patent

M1 - 6771418

ER -