Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

Chil Hwan Oh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치
Original languageEnglish
Patent number10329250
Publication statusPublished - 2016 Mar 3

Fingerprint

electron microscopes
methodology

Cite this

Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof. / Oh, Chil Hwan (Inventor).

Patent No.: 10329250.

Research output: Patent

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TY - PAT

T1 - Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

AU - Oh, Chil Hwan

PY - 2016/3/3

Y1 - 2016/3/3

N2 - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

AB - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

M3 - Patent

M1 - 10329250

ER -