Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

Chil Hwan Oh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

@misc{871d98eaeb024865b71f17e36a0ee24f,

title = "Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof",

abstract = "전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치",

author = "Oh, {Chil Hwan}",

year = "2016",

month = mar,

day = "3",

language = "English",

type = "Patent",

note = "10329250",

}

TY - PAT

T1 - Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

AU - Oh, Chil Hwan

PY - 2016/3/3

Y1 - 2016/3/3

N2 - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

AB - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

M3 - Patent

M1 - 10329250

ER -