Measurement of the [Formula Presented] mixing rate with [Formula Presented] partial reconstruction

Y. Zheng, T. E. Browder, K. Abe, K. Abe, R. Abe, I. Adachi, H. Aihara, M. Akatsu, Y. Asano, T. Aso, T. Aushev, A. M. Bakich, Y. Ban, A. Bay, P. K. Behera, A. Bondar, A. Bozek, M. Bračko, B. C.K. Casey, Y. ChaoShow 150 moreShow lessK. Chen, B. G. Cheon, R. Chistov, Y. Choi, Y. K. Choi, M. Danilov, S. Eidelman, V. Eiges, Y. Enari, C. Fukunaga, N. Gabyshev, A. Garmash, T. Gershon, B. Golob, C. Hagner, F. Handa, T. Hara, N. C. Hastings, K. Hasuko, M. Hazumi, E. M. Heenan, I. Higuchi, L. Hinz, T. Hokuue, Y. Hoshi, W. Hou, H. Huang, Y. Igarashi, T. Iijima, K. Inami, H. Ishino, H. Iwasaki, M. Iwasaki, H. K. Jang, J. H. Kang, J. S. Kang, S. U. Kataoka, N. Katayama, H. Kawai, Y. Kawakami, N. Kawamura, T. Kawasaki, H. Kichimi, D. W. Kim, H. J. Kim, H. O. Kim, Hyunwoo Kim, J. H. Kim, S. K. Kim, K. Kinoshita, S. Kobayashi, S. Korpar, P. Krokovny, A. Kuzmin, Y. Kwon, G. Leder, S. H. Lee, J. Li, D. Liventsev, R. Lu, J. MacNaughton, G. Majumder, S. Matsumoto, T. Matsumoto, W. Mitaroff, Y. Miyabayashi, H. Miyake, H. Miyata, T. Nagamine, Y. Nagasaka, T. Nakadaira, E. Nakano, M. Nakao, H. Nakazawa, J. W. Nam, Z. Natkaniec, S. Nishida, O. Nitoh, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, T. Okabe, S. Okuno, S. L. Olsen, Y. Onuki, W. Ostrowicz, H. Ozaki, C. W. Park, H. Park, K. S. Park, J. Perroud, L. E. Piilonen, F. J. Ronga, K. Rybicki, H. Sagawa, Y. Sakai, T. R. Sarangi, M. Satapathy, A. Satpathy, O. Schneider, S. Schrenk, C. Schwanda, S. Semenov, R. Seuster, M. E. Sevior, H. Shibuya, V. Sidorov, J. B. Singh, N. Soni, S. Stanič, M. Starič, A. Sugi, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, S. Suzuki, S. Y. Suzuki, T. Takahashi, F. Takasaki, K. Tamai, N. Tamura, J. Tanaka, M. Tanaka, G. N. Taylor, Y. Teramoto, S. Tokuda, T. Tomura, T. Tsuboyama, T. Tsukamoto, S. Uehara, K. Ueno, S. Uno, G. Varner, K. E. Varvell, C. C. Wang, C. H. Wang, J. G. Wang, Y. Watanabe, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamada, A. Yamaguchi, Y. Yamashita, M. Yamauchi, H. Yanai, M. Yokoyama, Y. Yuan, C. C. Zhang, Z. P. Zhang, V. Zhilich, D. Žontar