System and method for customized one-stop physical examination

Choon Hak Lim (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

원스톱 맞춤형 건강검진 시스템 및 그 검진 방법
Original languageEnglish
Patent number10-1611176
Publication statusPublished - 2016 Apr 5

Fingerprint

Physical Examination

Cite this

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TY - PAT

T1 - System and method for customized one-stop physical examination

AU - Lim, Choon Hak

PY - 2016/4/5

Y1 - 2016/4/5

N2 - 원스톱 맞춤형 건강검진 시스템 및 그 검진 방법

AB - 원스톱 맞춤형 건강검진 시스템 및 그 검진 방법

M3 - Patent

M1 - 10-1611176

ER -